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產(chǎn)品中心半導體專用檢測儀器設(shè)備RESmap 低電阻率測試儀
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電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復性 Si | Ge | 化合物半導體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬 | 導電 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
更新時間：2025-11-04
產(chǎn)品型號：RESmap-1
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